モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。
１台でスイッチングタイム、ＶＣＥ（ＳＵＳ）、負荷短絡測定を実現
高温／低温環境下での動特性（AC特性）測定に最適
コペル電子独自のノウハウにより低Ls測定が可能
加熱／冷却用チャンバー付きも可能
基本情報パワー・モジュール用動特性検査装置
対象素子 N-Ch IGBT/IPM/P-MOS FET Diode
SW TIME VCC:1000V IC:1000A VG:±20V
VCE(SUS) VCC:1000V IC:2000A VG:±20V
VCE(SUS): 2500V
負荷短絡 VCC:1000V IC:5000A VG:±20V
インダクタンス L:3μH～1mH
波形取得 D.S.O.
温度設定範囲 -40℃～+150℃
※本仕様は一例です。詳細はお問い合わせください。
| 用途／実績例 | 各種半導体（IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のパワー・モジュールを対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。 特に高信頼性を要求される自動車用等に最適な温度管理機能を持ったチャンバー型もあります。 |
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