モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する静特性検査装置です。
各種パワーモジュールを対象とした静特性（DC特性）測定器です。
微小電流から大電力まで対応。
基本情報モジュール用静特性検査装置
対象素子 N-Ch IGBT / IPM / MOS-FET / Diode
主な測定項目 IGES(±) （ゲ－トエミッタリ－ク電流）
VGE(off) （ゲート･エミッタ間遮断電圧）
ICES （出力段リ－ク電流）
VCES （出力段耐圧）
VCE(SAT) （出力段飽和電圧）
その他
・測定条件の設定は HOST PC との間で対話形式
・測定デ－タはCSV形式で記録
・室温／高温測定
※本仕様は一例です。詳細はお問い合わせください。
| 用途／実績例 | 各種パワーモジュールを対象とした静特性（DC特性）測定器です。 微小電流から大電力まで対応するカスタム仕様です。 |
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