株式会社シー・シー・ピー・ジャパン テストソケット、テストプローブ(メモリ検査用)
- 最終更新日：2020-08-06 16:22:03.0
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メモリICは、ほぼすべての電気デバイスにおいて核となる部品です。
メモリICは通常、揮発性メモリと不揮発性メモリに分類されます。
不揮発性メモリは電源が切られても保存された情報を維持しますが、
揮発性メモリはデータ保持のために絶えず電源供給を必要とします。
ほとんどのメモリモジュール製品は、標準的な検査ピンで検査が
できるように標準的なフォーマットになっています。
C.C.P.は、一般的なフォーマットの全て（DDR、フラッシュ、eMCP等）
に対し検査ソリューションを提供するだけでなく、お客様の個々の
ニーズに応じてカスタム仕様の検査ソリューションを提供いたします。
【マニュアル型DDR2/3検査モジュール仕様】
■最大位置数：8～16（片面/両面）
■伝送レート（MT/s）：200MHz～1866MHz
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基本情報テストソケット、テストプローブ(メモリ検査用)
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取扱企業テストソケット、テストプローブ(メモリ検査用)
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主力の製品群は主に４種類で、ICテストソリューション、スプリングプローブ(ポゴピン)、EV充電用コネクター、産業用コネクターをラインナップしております。 ポゴピンにおいては世界最大規模のサプライヤーであり、アップルやファーウェイ、マイクロソフトといった大手メーカーに製品を安定供給しており、アップル社のMac Bookシリーズや、マイクロソフト社のサーフェイスシリーズのマグネットコネクターにご採用頂いているブランドとして世界規模の市場で、品質と価格にて高い評価を頂いております。 ラインナップ ・テストソケット ・テストプローブ ・コンタクトプローブ ・ポゴピン ・コネクタ ・ICテスト ・ケルビン接続 ・高周波 ・大電流 ・大電圧 ・EV、電気自動車 ・スプリングプローブ ・産業用 ・ウェアラブル ・自社特許めっき ・鏡面加工技術 ・バーンイン ・半導体検査 ・回路検査 ・ファインピッチ/FPC検査 ・超小型ポゴピン ・パネル検査 ・ウェハーレベル ・ATE接続 ・プローブカード
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