株式会社シー・シー・ピー・ジャパン テストプローブ、テストソケット(一般的な最終検査)
- 最終更新日:2020-08-06 16:22:03.0
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C.C.P.は、ソケットおよびピンの開発・製造に関して25年以上にわたり
経験を積み重ねてきました。
当社の研究者チームが絶えず材料や製造工程の改善を続け、お客様に
良いソリューションをご提供。
200種類以上ものカスタム仕様のピンや、高周波の性能シミュレーションに
おいて容易に歩留水準を超えるような標準以上のピンを30種類以上も開発
しており、お客様に優れた性能をお届けしています。
【一般的なIC検査用ソケット仕様】
■ICパッケージサイズ:1.5×1.5~38×38mm2
■最小ピッチ:0.2mm
■材料:トーロン4203、トーロン5530、PEEK、PEEKセラミック、SCP5000
■データレート:6Gpbs/8Gpbs/12Gpbs
■製品寿命(ピン):>200K
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報テストプローブ、テストソケット(一般的な最終検査)
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取扱企業テストプローブ、テストソケット(一般的な最終検査)
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主力の製品群は主に4種類で、ICテストソリューション、スプリングプローブ(ポゴピン)、EV充電用コネクター、産業用コネクターをラインナップしております。 ポゴピンにおいては世界最大規模のサプライヤーであり、アップルやファーウェイ、マイクロソフトといった大手メーカーに製品を安定供給しており、アップル社のMac Bookシリーズや、マイクロソフト社のサーフェイスシリーズのマグネットコネクターにご採用頂いているブランドとして世界規模の市場で、品質と価格にて高い評価を頂いております。 ラインナップ ・テストソケット ・テストプローブ ・コンタクトプローブ ・ポゴピン ・コネクタ ・ICテスト ・ケルビン接続 ・高周波 ・大電流 ・大電圧 ・EV、電気自動車 ・スプリングプローブ ・産業用 ・ウェアラブル ・自社特許めっき ・鏡面加工技術 ・バーンイン ・半導体検査 ・回路検査 ・ファインピッチ/FPC検査 ・超小型ポゴピン ・パネル検査 ・ウェハーレベル ・ATE接続 ・プローブカード
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