チップデバイスを高温測定検査可能な マニュアルハンドラ 温度 ～250℃
チップデバイスを高温 ～250℃ で測定可能な マニュアルハンドラー
チップをテーブルに乗せて スタート
デバイスを取り込み 自動で測定 排出
250℃までのデバイス過熱が可能
コンタクトはプローブピンを使用
支給コンタクトがあれば 対応
基本情報高温マニュアルチップテストハンドラー
装置サイズ W 500mm D 400mm H 370mm
テーブルにチップをセット
スタートして テーブルが測定部へ移動
高温時は 設定加熱時間後自動測定 その後テーブル排出
テーブルへ 絶縁性確保のためガルデン液を注入も可能
| 価格帯 | 100万円 ~ 500万円 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | 高温マニュアルチップテストハンドラー |
| 用途／実績例 | チップデバイスの高温状態における電気特性検査用装置 マニュアル測定用 |
カタログ高温マニュアルチップテストハンドラー
取扱企業高温マニュアルチップテストハンドラー
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