株式会社日本技術センター パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』
- 最終更新日：2021-04-12 18:34:28.0
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コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体テスター）
『N50シリーズ』は、200V耐圧仕様で、デスクトップサイズのパワー
デバイステスターです。
ハンドラー内に収納ができ、デバイス直近に設置可能。静特性、熱抵抗、
L負荷測定（アバランシェ）を行うことができます。
また、当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応致します。
ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。
【特長】
■200V耐圧仕様
■デスクトップサイズ
■ハンドラー内に収納
■デバイス直近に設置可能
■ラインアップ：静特性、熱抵抗、L負荷測定（アバランシェ）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』
【開発評価用途等のカスタム】
■di/dt耐量
・MOSFETのボディーダイオードの逆回復動作の破壊試験
■dv/dt耐量
・MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験
■サージ耐量ダイオード
・非繰返しピーク順電流“IFSM”
■ゲート電荷量
・ゲート入力電荷量“QG”
■エージング試験
■耐圧試験（高電圧リレー回路製作）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
取扱企業パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』
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技術支援事業 ●エンジニアリング事業として産業機械、検査・計測装置の開発・製造・販売 ●機械、電気、電子の設計 ●FA/OAシステム開発（各種ソフトウェア開発） ●設計者、SE/PG、各種検査員・試験評価員などの技術者の派遣 ●一般派遣及びアウトソーシング その他上記に付帯する業務
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