株式会社昭和電気研究所 端子間異物検査装置『SEL-V170BT』
- 最終更新日：2021-01-14 13:24:21.0
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『SEL-V170BT』は、端子と端子の間にある異物候補を取得する画像に
応じた好適な光学系、当社独自の照明を採用して高度な検査を可能とした
端子間異物検査装置です。
ICのIN/OUTの間に検査枠を設ける事で異物候補の検出ができ、異物候補の
大きさ、輝度/色相/彩度のヒストグラム、異物と気泡の面積差と面積比の比較、
異物平均輝度等の設定を段階的に切り分けて異物候補を検出します。
【特長】
■端子間異物を好適な光学系を用いて検査する
■端子と端子以外でも検査が可能
■詳細設定により異物候補と気泡の切り分けが可能
■「SEL-V170AL」と連結可能
■1枚搬送のみ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報端子間異物検査装置『SEL-V170BT』
【仕様】
■パネルサイズ：3"～17.0"
■検査タクト：事例 7"（Dr×4/FPC×1/約16sec）
■検査精度：繰り返し精度 L,W,S：平均画素数≦15%以内
■Utility：電源：3相220V 50/60Hz 5.0kVA、Air：10L/min 0.45～0.8Mpa
■外形寸法：L1,200×D1,000×H1,600mm（ライン連結時V170AL）L4,200×D1,000×H1,600mm
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ端子間異物検査装置『SEL-V170BT』
取扱企業端子間異物検査装置『SEL-V170BT』
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【取扱製品】 ■ACF接合検査装置 ■ウェハ検査装置 ■ノズル検査装置 〔半導体〕 ■ウェハエッジ検査装置 ■ウェハクラック検査装置 ■接触検知装置 ■ウェハ割れ検知システム 〔ディスプレイ〕 ■ACF接合検査装置 〔化学繊維〕 ■紡糸ノズル検査装置 ■ノズル検査装置(簡易モデル) ■中空糸検査装置 〔鋼鉄〕 ■漏風検知システム ■音響解析診断装置 ■AE検査装置 ■内部欠陥検出装置 ■エッヂピンホール検出装置 〔宇宙〕 ■表面電位計（こうのとり4号：HTV） ■太陽光パネル放電状態検地データ採集ユニット：PASCAL（国際宇宙ステーション） 〔装置〕 ■特殊光学系設計・製作 ■LED照明＋ドライバ ■制御・通信・GUI ソフト開発 ■画像処理開発
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