パーク・システムズ・ジャパン株式会社 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』
- 最終更新日:2021-03-08 13:07:56.0
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最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、
解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる
原子間力顕微鏡(AFM)です。
本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に
革新的な研究に集中することができます。
【特長】
■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン
■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー
■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能
およびサンプルの保護
■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を
ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』
【主な機能】
■形状測定(ノンコンタクト/コンタクト/タッピング)
■電気特性(C-AFM/KPFM/EFMなど)
■機械特性(PinPoint/LFM/FMMなど)
■誘導特性/圧電特性(PFMなど)
■磁気特性(MFM)
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価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』
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