株式会社エルテック 100VGaNトランジスタ構造解析、プロセス解析レポート

GaN Systems製GaNパワートランジスタ「GS61008T-E01-MR」の構造解析・プロセス解析!

当社では、『GaN Systems製100VGaNトランジスタ(GS61008T-E01-MR)
構造解析、プロセス解析レポート』をご提供しております。

構造解析レポートではGaN Systems製GaNパワートランジスタ
「GS61008T-E01-MR」の詳細を明らかにし、プロセスフロー解析
レポートでは構造解析の結果に基づいてチップ製造プロセスの
推定を行っています。

【レポート内容】
■構造解析レポート
 ・パッケージ外観、X線観察、チップ平面解析(配線接続、レイアウト確認)、
  チップ断面解析(GaNトランジスタ、チップ端部)、GaN-Epi層TEM-EDX分析
 ・電気特性測定(Id-Vd、BVdss、容量特性)
■プロセス解析レポート
 ・製造プロセスフロー抽出・推定、マスク枚数、プロセス・シーケンス断面図
 ・電気特性と素子構造の関連解析

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

基本情報100VGaNトランジスタ構造解析、プロセス解析レポート

【Table of Contents】
■構造解析レポート
 1.デバイスサマリー
 2.解析結果まとめ
 3.パッケージ
 4.平面構造解析
 5.断面SEM構造解析
 6.断面TEM構造解析
 7.TEM-EDX分析
 8.電気特性評価
■プロセス解析レポート
 1.GaN Systems GaN HEMT(GS61008T-E01-MR)
 2.GS61008T-E01-MR解析結果まとめ
 3.プロセスフロー
 4.電気特性解析
 5.関連文献目録

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
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カタログ100VGaNトランジスタ構造解析、プロセス解析レポート

取扱企業100VGaNトランジスタ構造解析、プロセス解析レポート

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