株式会社エルテック IGBTモジュール構造解析、プロセス、デバイス特性解析レポート

富士電機製EV、HEV用IGBTモジュール(6MBI800XV-075V-01)について解析!

当社では、『富士電機製EV、HEV用IGBTモジュール(6MBI800XV-075V-01)
構造解析、プロセス、デバイス特性解析レポート』をご提供しております。

RC-IGBTのIce-Vce特性、オフ状態コレクタリーク電流及びブレーダウン電圧を
それぞれ測定し、オフリーク電流の温度依存性から活性化エネルギーを算出。
インフィニオン社製IGBT7と比較しています。

【解析のポイント】
■モジュール解析レポートでは、モジュールの内部構成を確認し、RC-IGBTの
 配置及びレイアウトを明らかにしている
■チップ構造解析レポートでは、RC-IGBTのIGBT、FWD領域の平面レイアウト
 及び断面構造を明らかにしている
■プロセス解析レポートでは、RC-IGBTのプロセス技術に関する考察、
 マスク枚数及び製造プロセスフローを推定している など

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

基本情報IGBTモジュール構造解析、プロセス、デバイス特性解析レポート

【目次】
■RC-IGBTモジュール構造解析レポート
 1.表1:デバイスサマリー(モジュール)
 2.モジュール外観観察
 3.モジュール構成
 4.冷却法、構成
 5.モジュール断面構造・材料分析(EDX)
 6.関連特許目録
■RC-IGBTモジュールIGBTチップ構造解析レポート
 1.デバイスサマリー
 2.搭載チップ概要
 3.Si IGBTチップ解析
 4.セル部EDX分析結果
 5.追加解析リスト
■RC-IGBTモジュールIGBTプロセス、デバイス特性レポート
 1.Fuji Electric RC-IGBT(6MBI800XV-075V-01)エグゼクティブサマリー
 2.RC-IGBTデバイス構成
 3.プロセス技術に関する観察と考察
 4.製造プロセスフロー解析
 5.電気特性評価
 6.関連文献目録
 7.関連特許目録

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カタログIGBTモジュール構造解析、プロセス、デバイス特性解析レポート

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