治具製作前に3次元シミュレーションにより、高周波性能の予測が可能！
当社では、豊富な経験により培ってきたノウハウを駆使し、お客さまの
ニーズに合わせた『高周波テスト治具』を提案いたします。
要求帯域に応じたプローブピン選定、誘電体選定により、効果的な測定が可能。
治具製作前に3次元シミュレーションにより、高周波性能の予測ができます。
また、最小0.15mmピッチまで対応可能です。
【特長】
■要求帯域に応じたプローブピン選定、誘電体選定により効果的な測定が可能
■治具製作前に3次元シミュレーションにより、高周波性能の予測が可能
■最小0.15mmピッチまで対応
■お客さまのニーズに合わせた製品を提案
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報高周波テスト治具
【基本技術】
■精密ポゴピン製作技術
■豊富なメカ設計技術
■耐熱樹脂ピンブロック精密加工技術
■薄膜アルミナ基板/高周波用PCB設計技術
■細線同軸ケーブル実装技術
■3次元電磁界シミュレーションによる設計検証
■S-parameter測定技術(〜110GHz)
■TDR、アイパターン解析技術
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ高周波テスト治具
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