アルファクス株式会社 レーザーダイオードテストシステム【LD342L/S-LT/NT】
- 最終更新日:2021-06-17 18:51:10.0
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レーザーダイオードの特性を半自動で測定可能な、研究開発用途のデスクトップ型のLDテストシステムです。
研究用のデスクトップタイプのLDテストシステムです。
<特長>
■ LDの形状によって専用治具を用意可能です。
■ 測定項目(フロントLIV、λ特性、FFP H,V)を指定温度環境下で1素子を自動
測定可能です。
■ 長波長(1200-1650nm)向けLD342Lと短波長(400-980nm)向けLD342Sがあ
ります。
■ 低温(-40°C~+100°C)までのLTと常温(20°C~+100°C)までのNTの選択肢が
可能です。
■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調芯を不要にしました。
基本情報レーザーダイオードテストシステム【LD342L/S-LT/NT】
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 測定対象 TO-CANパッケージ :φ5.6、φ9.0、ベアチップ、COS,COC (各種治具対応) 長波長LD:L型、短波長LD:S型 ※その他特殊なパッケージはご相談下さい。専用治具を準備致します。 |
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