ムサシノ電子株式会社 試料ホルダー『高精度ホルダー』
- 最終更新日：2023-06-15 09:24:20.0
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『高精度ホルダー』は、設定された研磨量の自動研磨が可能な試料ホルダーです。
研磨量の設定精度は±3μm以下で調整でき、研磨後の平行精度を±1μm以内に
収めることが可能です。
また、スプリングを取り付けた「荷重低減タイプ」もございます。
その他にも、オプションとして「微小傾き調整用2軸ゴニオ」もご用意いたします。
【特長】
■設定された研磨量の自動研磨が可能
■研磨量の設定精度は±3μm以下で調整可能
■研磨後の平行精度を±1μm以内に収めることが可能
■バックラッシュゼロのストッパー付き
■ストローク幅は5mm
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報試料ホルダー『高精度ホルダー』
【ラインアップ】
■HPJ-68（貼付け平板 Φ68mm）
■HPJ-78（貼付け平板 Φ78mm）
■HPJ-89（貼付け平板 Φ89mm）
■HPJ-100（貼付け平板 Φ100mm）
■HPJ-120（貼付け平板 Φ120mm）
【サンプルサイズ】
貼付け平板サイズまで
【加工実績のある材料例】
■半導体材料(シリコン、ゲルマニウム、炭化ケイ素、珪化ストロンチウム、ガリウム砒素、インジウムガリウムヒ素、インジウムリン、酸化インジウムガリウム亜鉛、窒化ガリウム、酸化ガリウム、カドミウムテルル …など)
■光学材料(石英ガラス、サファイア、蛍石レンズ、スピネル、リン酸塩ガラス、ホウ酸リチウム、アクリル樹脂(、CLBO、YiG、GGG …など)
セラミックス材料(アルミナ、ジルコニア、窒化ケイ素、フェライト …など)
■金属材料(鉄鋼材料、ステンレス、銅、金、銀、白金、アルミニウム、チタン、モリブデン …など)
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■透過電子顕微鏡(TEM)用の試料作製 ■研磨量制御が必要な試料作製 ■SiウェハーおよびInP等の化合物半導体の薄片化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ試料ホルダー『高精度ホルダー』
取扱企業試料ホルダー『高精度ホルダー』
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【取扱製品】 ■精密研磨システム ■常温硬化包埋樹脂 ■研磨盤 ■ポリシングクロス ■研磨剤 ■精密ブレードソー ■ダイヤモンドワイヤーソー ■精密手動スクライバー ■電子顕微鏡周辺機器
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