トライオプティクス・ジャパン株式会社 InterOptics社製干渉計『OptoFlat』
- 最終更新日:2021-12-09 16:41:23.0
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平面形状測定用 反射・透過波面測定!サブナノメートルレベルの位相測定を行える
『OptoFlat』は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を簡単に
測定することが可能なInterOptics社製の干渉計です。
小型かつ安定した機械設計でありながら、従来の干渉計と比較して低価格。
高出力LED光源で使用することにより、レーザースペックル干渉や
光学系内部干渉が発生せずクリアな干渉縞が生成される、
サブナノメートルレベルの位相測定を行うことができます。
【特長】
■低コヒーレンス干渉原理を使用
■平面形状を簡単に測定することが可能
■小型かつ安定した機械設計
■従来の干渉計と比較して低価格
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報InterOptics社製干渉計『OptoFlat』
【低コヒーレンス干渉原理の特長】
■裏面反射の軽減
■高出力LED光源
■簡単操作と透過波面切り替え
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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用途/実績例 | 【用途】 ■平面形状測定用 反射・透過波面測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログInterOptics社製干渉計『OptoFlat』
取扱企業InterOptics社製干渉計『OptoFlat』
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