試料ホルダーの交換により、φ2.88mmチップ～φ6inchインゴットまで測定可能！
当社では、サファイア、SiC、LTGAなどの単結晶を、結晶軸に対する
切断方向結晶方位を測定いたします。
試料ホルダーの交換により、φ2.88mmチップ～φ6inchインゴットまで
測定可能。
受託測定もいたしますので、お気軽にお問い合わせください。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報X線単結晶方位測定
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログX線単結晶方位測定
取扱企業X線単結晶方位測定
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■材料開発：単結晶材・多結晶材（サファイア、フェライト） ■超硬材料の精密加工（ミクロン・サブミクロンの機械加工） ■加工内容：切断、研削、溝入れ、ラップ、ポリッシュ、洗浄、検査 ■材料：サファイア、フェライト、PZT、CuW、ガーネット、水晶、ガラス、アルミナ、 窒化アルミ、セラミックス、Ni、Al、W、Mo、他 ■膜形成、接着、加工：ガラス・金属膜のスパッタリング（Å単位）、ガラスボンディング ■精密アッセンブリー：クリーンルームを使用する組立、検査 ■クリーンルーム650m2（クラス10,000） ■検査受託業務（ウェハ表面解析、他） ■見附工場（見附市福島町） ■第二工場（魚沼市下島）
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