パルステック工業株式会社 X線単結晶方位測定装置 s-Laue
- 最終更新日：2022-08-18 15:03:34.0
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単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。
空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。
【特長】
・小型・軽量で省スペース
・測定時間：約60秒
・低出力X線管の採用で冷却機構は空冷、メンテナンスの手間を削減します
・X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です
・顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です
・6軸(Θ/Tan./Rad./X/Y/Z)試料ステージ付き
・X線作業主任者不要で誰でも使えます
※大型試料や現場測定 (単結晶タービンブレードなど) のご要望がございましたらご相談ください。
試料フリーサイズ対応ポータブル型装置もご用意可能です。
デモ測定も承っております。
◆JASIS 2022 最先端科学・分析システム&ソリューション展に出展◆
会期 ：2022年9月7日(水)～9日(金)
会場 ：幕張メッセ国際展示場
小間番号：6B-402
ブースにご来場いただき是非実機をご覧ください！
基本情報X線単結晶方位測定装置 s-Laue
本製品の特長
１．小型・軽量
世界最小最軽量クラスを実現したμ-X360s の技術を応用し、小型・軽量な装置に仕上げました。
２．簡単操作
X 線は、試料の取付けが容易な垂直下向きに照射する構造とし、精密な位置合わせは顕微鏡を使用することで精度良く行えます。取扱いも簡単でどなたにも容易に操作していただけます。
３． 高速・高精度測定
標準コリメータ(X 線照射径：約Φ1mm)であれば約 60 秒で測定できます。また、独自の画像処理技術により、鮮明で高精度なラウエ斑点画像を出力できます。
４． 安全性確保
低出力 X 線を採用し安全性を確保。さらにインターロック付きの遮蔽カバーで被ばくを完全に防止できますので、どなたでも安全にご使用いただけます。X 線作業主任者の資格も不要です。
用 途
・単結晶材料の切り出し方位確認・調整（インゴット、ウェハーなど）
・結晶性の評価（単結晶／双晶／多結晶、結晶性の変化、対称性）
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ・主面方位の測定 ・切り出し方位の確認・調整 ・結晶性評価 ・結晶成長、加工関連 ・半導体デバイス製造・開発 |
カタログX線単結晶方位測定装置 s-Laue
取扱企業X線単結晶方位測定装置 s-Laue
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【主要事業内容】 電子応用機器・装置の製造および販売 【主な特長】 様々な分野のエンジニアが、要素技術とノウハウを複合させた製品づくりを行なっています。 （様々な分野：電子回路技術、ソフトウエア技術、光学技術、精密機械技術、自動制御技術） 【製品群】 ◆Ｘ線残留応力測定 ・ポータブルX線残留応力測定装置 ◆三次元計測 ・非接触三次元スキャナ ◆ヘルスケア分野 ・医療用・臨床研究用検査機器 ◆光応用計測 ・波面センサ ・透明体厚み・うねり計測装置 ◆光ディスク ・光ディスク・光デバイス開発用評価装置 ・光ディスク生産用装置・検査装置
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