受託分析評価サービスメルコセミコンダクタエンジニアリング

長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します！

当社では、卓越した分析力と先進の分析設備で、迅速・的確に
お客様のニーズにスピーディーにお応えする『受託分析評価サービス』を
提供しております。

単に結果を得るために分析するのではなく、その結果から課題解決の
指針を見いだすことを常に念頭に置きながら、経験豊富な技術者集団が
先進の分析機器・分析技術、今まで培ってきたノウハウを活かし、
好適な分析手法をご提案いたします。

【分析分野】
■半導体
■電子部品
■工業材料
■環境分析　など

※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

関連リンク - https://www.msec-melco.co.jp/analyze/index.html

基本情報受託分析評価サービス

【装置原理】
■構造解析
　・集束イオンビーム装置
　・集束イオンビーム加工観察装置
　・走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分析
　・透過電子顕微鏡
■表面解析
　・表面分析の種類と特徴
　・オージェ電子分光法
　・X線光電子分光分析法
　・飛行時間型二次イオン質量分析法
　・フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ
■その他
　・原子間力顕微鏡
　・発光解析装置
　・拡がり抵抗測定
　・フーリエ変換赤外分光光度法
　・大気非暴露条件下での前処理技術
　・断面イオンミリング装置

※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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用途／実績例	※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。