豊富なオプションも活用可能！インサーキットテスタや拡大スコープなどをご用意！
当社では、高品位を保つ豊富な『解析装置』を取り扱っています。
寸法計測、BGAボイド率計測、面積比率計測、ワイヤー流れ率計測等の計測が
可能な「マイクロフォーカスX線透視装置」をはじめ、高速処理の計測にも
対応する「オシロスコープ」などをラインアップ。
この他に、複合試験器（温度・湿度・振動）により、諸条件での信頼性・
動作状態を確認する「複合環境試験」などの様々な試験も承っています。
【ラインアップ】
■マイクロフォーカスX線透視装置
■ICT（インサーキットテスタ）
■オシロスコープ
■拡大スコープ
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報解析装置
【特長】
■マイクロフォーカスX線透視装置
・高密度実装基板やBGA・CSP・システムLSI等、超微細部の接合状態（断線・接触）を透視検査
・寸法計測、BGAボイド率計測、面積比率計測、ワイヤー流れ率計測等の計測も可能
■ICT（インサーキットテスタ）
・部品の特性（抵抗値やコンデンサの値）を測定、断線やショートの有無を検査
・実装基板の試験と同時に生基板の配線チェックも行うことが可能
■オシロスコープ
・高速処理の計測にも対応
・オーバー／アンダーシュート、リンギング、遅延等を実測検証
■拡大スコープ
・不具合箇所の調査や解析を行う
・画像解析・計測ソフトを使用
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ解析装置
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