レンズユニット波面計測システム（LUCAS）パルステック工業

Shack-Hartmann方式波面センサを使用した検査・調整システムです。タクトが要求される⽣産ラインへの導⼊に適しています。

・ダイナミックレンジが広く、⼲渉計では困難な⼤きな収差も計測できます。
・⾼速演算処理により30Hz（max）のリアルタイム波⾯収差計測が可能です。
・計測⽤光源はお客様の要望に応じてカスタム対応できます。（多波⻑対応可能）
・振動や温度の影響を受けにくいので、⽣産⼯程でも安定した計測ができます。
・量産⼯程向けの機能・操作性を考慮した波⾯計測ソフトウェアWFS2を提供できます

基本情報レンズユニット波面計測システム（LUCAS）

◇測定項⽬：
総合波⾯収差 (PV, Rms)、Zernike 多項式係数（最⼤ 36 項）、Seidel 収差係数
◇測定精度（Rms）：λ/100 以下（3σ）
◇測定再現性（Rms）：λ/300 以下（3σ）
◇被験レンズ測定有効径：φ4 〜 9.8mm
※エキスパンダーオプションにて変更可
◇被験レンズ測定最⼤ NA：0.85
◇測定光源波⻑：635nm±10nm
※レーザオプションにて変更可
搭載波⾯センサ：⾼速波⾯センサ PWS-1000 １インチサイズ
　※その他のモデルにも変更可能です。
最⼤測定更新速度：30Hz
測定収差範囲（Seidel Sa3）：3 50λ Coeff.
制御・解析ソフトウェア：パルステック⼯業製WFS2

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください
型番・ブランド名	LUCAS
用途／実績例	・⾮球⾯レンズ、凸凹レンズの検査・レンズユニット・光学デバイスの調整・平⾯物の反射および透過波⾯検査

お問い合わせ

取扱企業レンズユニット波面計測システム（LUCAS）

パルステック工業株式会社

【主要事業内容】　電子応用機器・装置の製造および販売【主な特長】　様々な分野のエンジニアが、要素技術とノウハウを複合させた製品づくりを行なっています。（様々な分野：電子回路技術、ソフトウエア技術、光学技術、精密機械技術、自動制御技術）【製品群】 ◆Ｘ線残留応力測定　・ポータブルX線残留応力測定装置 ◆三次元計測　・非接触三次元スキャナ ◆ヘルスケア分野　・医療用・臨床研究用検査機器 ◆光応用計測　・波面センサ　・透明体厚み・うねり計測装置 ◆光ディスク　・光ディスク・光デバイス開発用評価装置　・光ディスク生産用装置・検査装置