対流加熱式でリフロープロセスを再現！20℃～300℃までの任意温度に加熱可能
『HVI-S10000C』は、計測範囲160×136mmでバンプ除去不要の
広視野温度可変反り検査装置です。
共焦点法を用いており、サンプルへの塗装や部品を除去する必要がなく、
バンプ高さ、コブラナリティに加え、基板の変形も同時に高精度な検査を実現。
Zステージに設けられたナノ分解能のリアルスケールにより、
シャッタのタイミングが制御されるため、高速でありながら正確な
Z位置でのデータ取得が可能です。
【特長】
■広視野&高速
■バンプ除去不要
■塗装処理不要
■計測範囲160×136mm
■対流加熱式でリフロープロセスを再現
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報広視野温度可変反り検査装置『HVI-S10000C』
【装置仕様(抜粋)】
■計測視野サイズ：41×33mm
■計測速度：約2秒/視野(Z計測範囲：1mmの場合)
■Z計測範囲：最大4mm
■XY分解能：11.0μm
■Z分解能：0.1μm
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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| 用途／実績例 | 【主な用途】 ■HVI-S10000C-RC：リフローシミュレーション ■HVI-S10000C-EC：環境試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ広視野温度可変反り検査装置『HVI-S10000C』
取扱企業広視野温度可変反り検査装置『HVI-S10000C』
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株式会社東光高岳 光応用検査機器事業本部 検査機器営業部 営業G
■電力プラント事業 ■電力機器事業 ■エネルギーソリューション事業 ■計量事業 ■光応用検査機器事業 ■スマートグリッド事業
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