半導体・FPDなどの検査をより快適に、より効率的に
MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることで、お客様に有益なシステムを提供することができます。
さらに、PRECiV画像解析ソフトウェアと組み合わせることで、観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提案します。
基本情報半導体/FPD検査顕微鏡 MX63/MX63L
従来の観察方法では見つけにくかった欠陥も、卓越した光学・イメージング技術で検出できます。
MX63/MX63Lは、これまで工業用顕微鏡で用いられていた観察法を備えています。さらに、新開発の照明手法やPRECiVを使用することで、従来は不可能とされていた検査・評価を可能にします。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | お気軽にお問合せくださいませ。 |
詳細情報半導体/FPD検査顕微鏡 MX63/MX63L
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・ユーザーフレンドリー
MX63/MX63Lなら、豊富なサポート機能やガイダンス機能を使えば初心者でも適切な観察条件で効率的な検査が行え、作業者ごとのバラつきも抑えることができます。顕微鏡を適切に操作するために必要だった専門的なトレーニングも不要です。
・先進の画像技術
オリンパスは長年積み重ねた光学技術と先進のソフトウェアによる画像技術を融合し、鮮明な画質と卓越した測定精度を提供します。
・モジュラリティ―
モジュール式システム設計により、サンプルやアプリケーションに応じたカスタマイズが可能です。
・アプリケーション
従来から顕微鏡の多彩な観察法によって、お客様の多様なサンプルや検査目的に対応します。さらにMIX観察や落射・透過照明を同時点灯した観察など新たな観察法も利用可能なので、より目的に適した画像を取得することができます。
カタログ半導体/FPD検査顕微鏡 MX63/MX63L
取扱企業半導体/FPD検査顕微鏡 MX63/MX63L
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