干渉縞を高精度な解析で数値化
レーザー干渉計で観察される干渉縞画像から、研磨面の面精度や光学素子の透過面精度を数値化、可視化することで、より高精度に、より分かりやすく、品質管理の向上に有益な製品です。
基本情報干渉縞解析装置 IFM
新たに開発したIFMは、最新のOSに対応し、新規アルゴリズムの導入により測定精度が向上し、様々なニースに対応する解析機能を有します。
操作は簡単で、どなたでもお使い頂ける干渉縞解析装置です。
ご所有の干渉計にIFMを搭載する、レトロフィット（旧型を改良）にも対応致します。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | お気軽にお問合せくださいませ。 |
詳細情報干渉縞解析装置 IFM
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数十社のユーザーのご意見、ご要望をもとに新たな干渉縞解析装置を開発し、刷新しました。
・アイコンによる操作で、初心者でも容易に測定作業が可能
・画像処理技術の導入による位相つなぎ精度の向上
・様々な解析機能の追加
⇒ゼルニケ係数：Fringe Zernike及びStandard Zernike係数の両方で解析可能
⇒カルテシアン係数：直交座標系での解析、及び収差リムーブが可能
⇒ユーザー定義関数での解析：Zernike、PV、Coma、Powerなどの演算機能
⇒位相データ演算機能：平均化処理、2球面法、3平面法など様々な解析が可能
⇒異常画像（ゴミ、キズ）自動除去機能
・PV値、RMS値、ザイデル収差（球面/コマ/アス）、3D（鳥瞰図）、2D(等高線図)、断面解析はもちろんのこと、IRR（Irregularity）、RSI（Rotationally Symmetric Irregularity）のISO10110-5に準拠する解析も可能。
カタログ干渉縞解析装置 IFM
取扱企業干渉縞解析装置 IFM
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