株式会社東陽テクニカ 原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』
- 最終更新日：2023-11-06 15:50:37.0
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SEMとAFMを組み合わせた相関分析！材料表面の理解がより深化
『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な
原子間力顕微鏡です。
SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM
としても利用可能。
FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が
あります。
【特長】
■SEMの機能拡張
■非常に精密な相関イメージング
■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ
■サンプル汚染のリスクを排除
■2DSEM像を3Dに拡張
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』
【観察・測定モード】
■形状イメージング/表面ラフネス
■機械特性
■電気特性/電気機械特性
■磁気特性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【アプリケーション範囲】 ■マテリアルサイエンス ■ナノ構造体 ■半導体 ■ライフサイエンス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』
取扱企業原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』
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株式会社東陽テクニカ 慶應義塾大学理工学部中央試験所・ 東陽テクニカ産学連携室 ナノイメージングセンター
【分野】 ■情報通信 ■物性/エネルギー ■ナノイメージング ■EMC/大型アンテナ ■機械制御/振動騒音 ■海洋/特機 ■ソフトウェア開発支援 ■メディカルシステム
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