ND GROUP 日本支社ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1

最終更新日：2023-12-11 15:35:46.0
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最小および中サイズの分析と測定に最適高性能透過型X線源の採用により、従来と比べて同じ測定時間で4倍の分解能を実現

diondo d1 は、小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された高解像度マイクロ・ナノ CT システムです。従来のシステムと比較して、d1 は高出力透過 X 線源を使用することで、同じ測定時間で最大 4 倍の分解能を達成でき、同じ分解能で測定時間を 1/4 に短縮できます。非常に高い送信出力により、新エネルギー電池などの新エネルギー車両用途における困難な材料の組み合わせの分析も可能になります。

●短時間・高解像度

● 最高精度・最大検出量

●高精度の花崗岩機械システム

● 座標測定技術

●高度なスキャンモード

関連リンク - https://www.diondo.com/produkte/diondo-d1

基本情報ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1

【仕様】
X線管：190～240[kV]
エリアアレイ検出器：3,000×3,000ピクセル、139[μm]
焦点検出距離：800[mm]、可変
検出範囲：Ø 300 x 230 H [mm]
最大有効検出範囲：Max.Φ400×400H[mm]
最大耐荷重：20[kg]
本体寸法：長さ2,350×幅1,450×高さ2,035[mm]
本体重量：5.5[t]
diControl ソフトウェアの機能：DR 機能、スパイラル CT、角度制限スキャン、高速 CT、高速再構成 GPU 加速、ビームハードニング補正、アーティファクト補正、バッチ自動検出、自動幾何補正、日常検出、状態検出、測定モジュール VDI/VDE 2630
機械システム：花崗岩プラットフォームをベースとした 4/5 軸機械システム

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください
型番・ブランド名	diondo d1
用途／実績例	【応用分野】高性能透過型X線源従来の CT システムは、放射線源として反射管を使用します。困難な材料や厚い成分を含むサンプルを貫通するには高出力が必要ですが、高出力は解像度に影響を与える可能性があります。簡単に言えば、使用する電力が高くなるほど、解像度は悪くなります。この現象に対処するには、電力レベルを下げ、それに応じて測定時間を長くする必要があります。しかし、Diondo D1 を使用する場合は、このことを心配する必要はありません。高出力トランスミッションを使用することにより、小ロットの検査などに大きなメリットをもたらします。 ▪ 積層造形 ▪ 繊維複合材料 ▪ 電子電気分野

詳細情報ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1

: diondo d1

●高精度御影石マニピュレーター
固有の剛性と温度安定性により、長年の集中的な使用後でも最高の精度が保証されます。

●三次元測定技術
VDI/VDE 2630-1.3 に準拠した、最も高い要求に対応する再現可能な 3D 測定テクノロジー

●高度なスキャンモード
高い柔軟性を実現するヘリックススキャン機能を搭載

: diControlの機能

DR 機能、Helix CT、バッチモード、オフセット CT、毎日のチェック、ヘルスモニター、制限角度 CT、VDI/VDE 2630-1.3 に準拠した計測など。

: CT測定分野-アプリケーション例
【繊維複合材料解析】
繊維複合材料の高い比強度にもかかわらず、不適切な配向や細孔などのさまざまな材料欠陥が原因で、コンポーネントの早期故障が発生する可能性があります。コンポーネントは非破壊 CT スキャンを使用してチェックされ、故障早期発見にお役に立ちます。

: CT測定分野-アプリケーション例
【積層造形】
自動車、航空宇宙分野では、コンポーネントは軽量化に関して高い安全基準の対象となることが多いため、積層造形コンポーネントの品質管理は重要な役割を果たします。

: CT測定分野-アプリケーション例
【寸法測定】
コンピュータ断層撮影の利点は、他の測定システムが限界に達している多くの計測タスクを達成できます。透明または研磨された表面やアクセスできない領域など、視覚的に要求の厳しい表面であっても、非常に短時間で高解像度で簡単に測定できます。

: 高性能透過型X線源
両方の長所

従来の CT システムは、放射線源として反射管を使用して動作します。困難な材料やコンポーネントの厚い壁を貫通するには高出力が必要であり、最大解像度に悪影響を及ぼします。
簡単に言えば、使用される電力が高くなるほど、解像度は低くなります。
この現象に対処するために、より低い電力レベルと、それに伴うより長い測定時間が使用されます。 diondo d1 ではこれは必要ありません。
高性能透過型X線源の採用により、従来と比べて同じ測定時間で最大4倍の分解能を実現します。また、同じ分解能で測定時間を 4 分の 1 に短縮することもできます。これは、少量の連続生産だけでなく、大きな利点となります。