東芝ナノアナリシス株式会社 磁場顕微鏡と3次元X線顕微鏡による非破壊解析
- 最終更新日：2023-12-18 12:56:22.0
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これまでの非破壊解析では困難であった低抵抗ショート不良の解析が可能に！
磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、
測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。
磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線CT)で
観察することにより、非破壊で詳細な原因解析が可能。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。
【解析フロー】
1.磁場顕微鏡による異常検出
2.3次元X線顕微鏡による観察
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報磁場顕微鏡と3次元X線顕微鏡による非破壊解析
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | 【事例】 ■Ball Grid Array(BGA)ショート箇所観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ磁場顕微鏡と3次元X線顕微鏡による非破壊解析
取扱企業磁場顕微鏡と3次元X線顕微鏡による非破壊解析
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■半導体製品、FPD、電子部品およびそれらの品質信頼性評価用ユニットの 故障解析、構造解析、材料分析、インプロセスQC関連分析、プロセス評価、 清浄化評価、化学分析および評価 ■金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、 化学分析および評価 ■作業環境測定およびナノマテリアル環境評価、医療、医薬を支援する 封じ込め性能評価や抗がん剤汚染評価
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