JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL
- 最終更新日：2017-10-17 15:54:54.0
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蛍光X線分析装置（XRF）を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。
弊社所有の蛍光X線分析装置（XRF）は波長分散型X線分析法（WDX）を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。
WDXはエネルギー分散型X線分析法（EDX）よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析（判別）やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。
基本情報蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL
【優れたエネルギー分解能】
エネルギー分解能が10eV程度と高いため、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。
【微量元素（±数100ppm～数1,000ppmの定量精度）の分析】
分光結晶のチャンネル1つに対して1元素を分析することから、±数100ppm～数1,000ppm（0.01～0.1%オーダー）の微量な元素の分析に適しています。
金属試料の材料判別や含有率の低い不純物の分析などの実施が可能です。
【微量元素・軽元素の高感度検出】
微量元素は100ppm（0.01%）程度の検出限界になります。（※元素によって異なります。）
軽元素の高感度分析用の分光結晶も装備されていますので、B～Uまでの元素の高精度な定量が可能です。
【多彩な分析手法】
X線による非破壊分析
多元素同時分析（※SQX法）
マッピング表示
金属試料の材料判別（SUS、アルミ合金、銅合金）
メッキの膜厚測定
| 価格情報 |
- 分析内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
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| 納期 |
お問い合わせください
※分析内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
| 型番・ブランド名 | 観察分析＞分析サービス＞表面元素分析＞蛍光X線分析（XRF） |
| 用途／実績例 | ・無機異物の定性・定量分析 ・SUS、アルミ合金、銅合金の材料判別 ・セラミックの材料分析 ・メッキの非破壊膜厚調査 ・金属試料中の不純物の含有量調査 ・付着物や異物の元素分析 |
カタログ蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL
取扱企業蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL
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●計測領域 製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに対し、受託専門機関ならではの幅広い知識・設備力で対応します。 ●試験領域 治具作製から試験前準備、規格・特殊試験にわたりR&Dに関わる信頼性試験をワンストップで対応します。 ●分析領域 解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。
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