赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」ディスク・テック

傷や異物の寸法計測も可能！シリコンチップの内部観察に適しています！

高解像度赤外線ＣＭＯＳカメラとエンハンサソフトウェアにより各種
シリコンデバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！

～特徴～
●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。
●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。
●画面上での寸法計測、面積計測が可能。

※詳細はカタログをダウンロードして下さい。

基本情報赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

MEMSに於いて赤外線でウェーハ裏面の観察を行う際に鮮明な画像が得られないケースは多々ありますが、その画像をエンハンサソフトで鮮明にする事が可能です。傷や異物の寸法計測も可能です。

価格情報	お問い合わせ下さい。お気軽にお問い合わせください。
納期	お問い合わせください ※内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
型番・ブランド名	ＩＲ−1300
用途／実績例	～用途～ ●フリップ実装におけるコンタクト界面の観察、外観検査。 ●貼り合わせシリコンウェーハの界面の観察、欠陥検査。 ●ＭＥＭＳ、ＷＬＣＳＰ、ＳＩＰ、ＣＯＮ等の各種デバイスの内部観察。

カタログ赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

取扱企業赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

ディスク・テック株式会社本社

・画像処理応用装置、各種画像処理検査装置を開発、設計、製作。・フォトマルを応用した製品。（放射能計測、ピンホール計測）・各種ソフトウェア（画像処理、制御、スマホアプリ）の受託開発、派遣業務。・海外製品のメンテナンス、技術サポート（特に光学技術を含んだもの、クリーンルームで使用する装置が得意としています。）・画像処理装置の販売及び技術サポート並びに画像処理に関連した光源、付帯品等の販売。・営業分野　医療機器検査装置分野、MEMS分野、半導体分野、FPD分野、光ディスク分野、　