LabVIEW＋IMAQvision画像処理例 [IC外観検査装置]
■概要
・透明フィルムにパッケージされたICチップの外観検査を行う装置
・リールに巻かれたフィルムパッケージを順番に検査して反対側のリールに巻き取る
■検査項目
・足の曲がりと欠損・刻印の有無と汚れ
・チップの欠けとキズ・逆向き
■特徴
フィルム越しにIC画像を撮りこみ、フィルム自身のしわや
キズは無視して検査する
■開発範囲
リール巻き取り装置・ハードウェア・制御ソフトウェア、
画像処理ソフトの開発一式
■用途
・検査ラインでの外観検査
・不良解析
基本情報LabVIEW＋IMAQvision画像処理例 IC外観検査装置
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| 型番・ブランド名 | IC外観検査装置 |
| 用途／実績例 | ■□■用途■□■ ■検査ラインでの外観検査 ■不良解析 ■□■ペリテック社にお任せ下さい！■□■ ■LabVIEWコンサルティング ■LabVIEWによるシステムの構築 ■LabVIEWによるドライバの開発 ■外観検査、画像処理・電気回路設計、製作、製造 ■試験器の設計、製造 |
カタログLabVIEW＋IMAQvision画像処理例 IC外観検査装置
取扱企業LabVIEW＋IMAQvision画像処理例 IC外観検査装置
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株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
LabVIEWによるテスター開発 LabVIEWによるシステムの構築 LabVIEWによるドライバの開発 外観検査、画像処理・電気回路設計、製作、製造 試験器の設計、製造 [ISO9001取得済み] ISO9001:2015 認証番号：QAJC / JP / 1068-B 認証機関：QAIC JAPAN Co., Ltd. 認証事業所：本社・開発センター
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