ライフタイム測定装置日本セミラボ

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります

オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。
(拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)

関連リンク - http://www.semilab-j.jp/

基本情報ライフタイム測定装置

ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。
シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。
※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。

価格情報	-
納期	お問い合わせください ※2〜4ヶ月
型番・ブランド名	SEMILAB社製　WT-2000
用途／実績例	太陽電池マーケットでは、世界的に業界標準化しており、ブロック/ウェハー製造(インライン)、セル工程など様々な開発、製造管理工程などでご使用頂いております。

お問い合わせ

取扱企業ライフタイム測定装置

日本セミラボ株式会社新横浜本社

■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■下記製品の取り扱いをしています。分光エリプソメーター非接触シート抵抗測定装置 DLTS測定システムナノインデンター AFM（原子間力顕微鏡）キャリア移動度測定装置非接触CV測定装置ライフタイム測定装置フォトルミネッセンス装置仕様や価格情報などお気軽にお問い合わせください。