光ヘテロダイン変位計　HV400 フォトンプローブ

極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測！過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計

光ヘテロダイン変位計　HV400

【特徴】
○1nmの分解能
　0.001ミクロンが縦分解能
　計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長
○最短１μsごとに過渡現象を記録
　短時間に変動する事象を計測・記録・表示
　PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然
○最大100万点を記録、データ処理
　記録時間を大幅に増加
　膨大な記録点数は、すべてPCで処理しフィルタ処理、エクセル変換が可能
○相対計測でベース振動等に基づく誤差要因を排除
　測定点を2か所として、その2地点での変位量の相対値を計測
　相対変動量のみを明確にし、ベース振動成分などの
　誤差要因を取り除く事が可能

●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

基本情報光ヘテロダイン変位計　HV400

極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測！
過渡応答現象測定に最適な、光ヘテロダイン変位計

【特徴】
○1nmの分解能
　0.001ミクロンが縦分解能
　計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長
○最短１μsごとに過渡現象を記録
　短時間に変動する事象を計測・記録・表示
　PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然
○最大100万点を記録、データ処理
　記録時間を大幅に増加
　膨大な記録点数は、すべてPCで処理しフィルタ処理、エクセル変換が可能
○相対計測でベース振動等に基づく誤差要因を排除
　測定点を2か所として、その2地点での変位量の相対値を計測
　相対変動量のみを明確にし、ベース振動成分などの
　誤差要因を取り除く事が可能

●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

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型番・ブランド名	HV400
用途／実績例	【用途】 ○ＰＺＴ、制動鋼板、トランス、磁性材料などの振動解析・応答特性評価 ○高分子材料、薄膜、半導体、セラミックスなどのヤング率測定 ○ＭＤ、ＦＤ、ＨＤ、光ディスク、ブランクスなどの回転動特性評価 ○ＬＮ、合金、鋼材、有機材などでの表面波、超音波伝搬速度測定 ○レーザ露光での空間揺らぎや膜材の音波、超音波での振動成分解析 ○光ピックアップ、磁気ヘッド（スライダ）の立ち上がり動特性評価 ○金属、高分子、セラミックの動的熱応答特性 ○その他の物理量；圧電係数、熱膨張係数、浸透圧、重力波、物性強度、硬度、衝撃波の過渡現象も計測の対象