日本アレックス株式会社 蛍光X線膜厚測定器
- 最終更新日:2011-08-15 15:35:29.0
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膜厚測定の現場ニーズに応える高性能膜厚計
各種ディスク、プリント基板、電子機器等、多様な製品の測定が可能!
基本情報蛍光X線膜厚測定器
蛍光X線膜厚測定器「XRF-2000series」は、
●レーザーを用いた3次元オートコントロールステージが、
正確な位置出しと高精度測定を実現
●モジュール化された内部構造と高寿命X線チューブが
ランニングコストを大幅に削減
●独自開発されたソフトウェアが作業精度の向上と測定結果の
迅速なレポート化に貢献(Microsoft Windows対応)
◆多様なモデルサイズ
※T、H、PCBの各タイプの提供だけでなく、生産現場における
希望に合わせて、サイズ変更やオプションのご要望にも対応
価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | XRF-2000series |
用途/実績例 | ■ディスク ■プリント基板 ■各種電子部品 などのメッキ生産現場における膜厚測定の問題を一掃します。 |
カタログ蛍光X線膜厚測定器
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