プレサイスゲージ株式会社 スキャン方式FFP計測装置
- 最終更新日：2008-07-14 15:58:21.0
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FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。
■特長
●Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測
●短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応
●マイクロW以下の微小光量で計測可能
●強度軸ダイナミックレンジ＞40dB
●スキャン角度範囲：±60°および回転角度範囲：180°
基本情報スキャン方式FFP計測装置
FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。
■特長
●Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル計測
●短波長帯、長波長帯のLD・LEDおよびファイバに対応
●マイクロW以下の微小光量で計測可能
●強度軸ダイナミックレンジ＞40dB
●スキャン角度範囲：±60°および回転角度範囲：180°
| 価格情報 | - |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | FFP1003 |
| 用途／実績例 | ●VCSELのFFP計測 ●青色LDのFFP計測 ●ファイバのNA計測 ●光散乱物質の散乱分布計測 |
カタログスキャン方式FFP計測装置
取扱企業スキャン方式FFP計測装置
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光計測機器・センサ及び関連部品の製造、販売 光計測機器・センサ及び関連部品の輸出入、販売
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