HM型磁界測定器『HM-201［一軸］』

モニタ出力端子及びレコーダ出力端子付き！センサの零点を容易に調整するこ…

『HM-201［一軸］』は、「HM-101」と「HM-150」の機能を1台にまとめた ポータブル一軸磁界測定器です。 センサ部は直流磁界が磁気発振方式で、交流磁界はサーチコイル方式を採用。 分解能は0.1μTで測定し、モードスイッチでいずれかを選択して使用します。 また、周波数40Hz～500Hzの交流磁界（0～10μT）のX,Y,Z成分を同時に 測定する高感度三軸磁界測定器「H...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エムティアイ

半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品：表面実装型 ICパッケージ（BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA） 、イメージセンサ、センサ製品　等 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

【サンプル評価可能！】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易！3D…

高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。 　3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能 ■2D検査に対応する様々なアルゴリズムがあります。 ■複数画像撮像を高速処理することで、様々な条件の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社