• LTE / 5GNR(FR1・FR2) MIMO OTA試験 製品画像

    LTE / 5GNR(FR1・FR2) MIMO OTA試験

    PR数分の位置調整で最大スループット接続が実現

    近傍界測定を特長とする弊社アンテナカプラの性能を最大限に発揮し、LTE/5GNR端末のMIMO OTA試験に特化した シールドボックス(FS-2310)です。 LTE、SUB6(FR1)、ミリ波(FR2)バンドのMIMO試験をOTAにて手軽に実現します。 また、最高転送速度での連続長時 間試験に端末が耐えられるように端末冷却専用のファンを内部に2台まで搭載することが可能になっています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 森田テック株式会社

  • 半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』 製品画像

    半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』

    PR±0.5%以下の測定精度で、水質管理の信頼性を向上。評価結果などの紹介…

    『UPW UniCondセンサ』は、大手半導体メーカーとの共同開発により 堅牢な構造と高度な温度補正機能を備えた比抵抗計です。 環境温度やプロセス温度の変化による測定値の変化や 信号ノイズを防ぎ、高い温度補償比抵抗精度を実現。 半導体分野における水質の正確な把握と歩留まりの向上に貢献します。 【特長】 ■±0.5%以下の測定精度を実現 ■ノイズと水質変化による干渉を区別し、高...

    メーカー・取り扱い企業: メトラー・トレド株式会社

  • ポアソン比測定 製品画像

    ポアソン比測定

    引張試験機とひずみゲージを用いた、ポアソン比の測定事例を紹介!

    【試験条件】 ■ロードセル:1kN ■引張速度:0.5mm/min ■サイズ:JIS K7161-2 1B型 ■測定温度:室温 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 高温ラッチアップ試験 製品画像

    高温ラッチアップ試験

    高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…

    プ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDEC(JESD78E) ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室温、ClassII:最大使用周囲温度 ■JEITA{JEITA ED4701/302(試験方法306B)} ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室温、ClassII:最大動作温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 引張試験 製品画像

    引張試験

    加温環境下での万能材料試験機(オートグラフ)を用いたプラスチックフィル…

    が可能です。 測定したい材料、物性に合わせて、条件を提案させて頂くことも可能です。 お気軽にご相談下さい。 【試験機仕様】 ■恒温槽温度範囲:-40〜250℃ ■ロードセル:50kN、1kN ■荷重精度:荷重指示値の±1% ■試験速度:0.0005〜1000mm/min ■移動距離 ・引張試験部:1485mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター> 製品画像

    促進耐候性試験<キセノンウェザーメーター>

    自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維など!様々な分野で試験と…

    【スーパーキセノンウェザーメーターSX75 主な仕様(一部)】 ■放射照度と波長範囲(装置により測定波長範囲が異なる) ・60~180W/m2(300~400nm) ・0.55~1.65W/m2(340nm) ・1.10~3.30W/m2(420nm) ・550~1650W/m2(290~800nm) ・450~135...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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