［XRR］X線反射率法

XRR：X-ray Reflectivity

XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 （2～300nm 程度） ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能（Rms = 5nm 以下） ・非破壊で分析が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

粉体層せん断力測定装置『NS-Sシリーズ』

粉体の流動性評価に好適な装置登場！高精度で再現性のよい評価が可能！

『NS-Sシリーズ』は、粉体原料、中間製品の粉体物性（流動性、内部摩擦角、 付着性、応力緩和性）について高精度で再現性の良い評価ができる、 粉体物性評価装置です。 粉体層せん断力測定装置は、粉体層の縦方向圧縮力と横方向せん断力を同時に 測定することによって、様々な力学的な粉体物性を評価できます。 さらに、受託測定の分析データをお渡しいたします！（※有償） 【特長】 ■わず...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナノシーズ