• デジタル計測器を使用した製品検査支援システム『DT-Note』 製品画像

    デジタル計測器を使用した製品検査支援システム『DT-Note』

    PR製品検査業務の効率UP!デジタル計測器+タブレットを活用した製品検査支…

    『DT-Note』はデジタルノギス、デジタルマイクロメーター等のデジタル 計測器を使用した製品検査を支援するシステムです。 オーダーメイド製品等のさまざまな製品の計測に柔軟に対応可能であり、 従来システム化が困難であった製品検査業務を大幅に効率化します。 【特長】 ■製品検査業務の効率UP ■瞬時に製品の許容寸法チェック ■HID出力に対応した計測器と連携可能 ■デジタル計...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SAYコンピュータ

  • HSC 5軸ミリングマシン RXP型【レダース社製】 製品画像

    HSC 5軸ミリングマシン RXP型【レダース社製】

    PR同時5軸制御加工機に最高42000回転/分の高速スピンドルを標準装備!…

    ドイツ ROEDERS(レダース)社製のミリングマシンは、ハイスピードミリング技術により荒加工から仕上げ加工までを、より短時間に高精度かつ高い面粗度で実現します。 直線軸は全軸リニアモーター駆動+ローラーガイド、回転・傾斜軸はダイレクトドライブ(トルクモーター)により高速・高精度の位置決めが行われます。 ミリング・グラインディングセンタの仕様では、ワンチャックでミリング加工、ジグ研削加工、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ゴーショー

  • UltraVision3  超音波探傷試験ソフトウェア 製品画像

    UltraVision3 超音波探傷試験ソフトウェア

    超音波探傷試験で求められるあらゆる機能を統合したソフトウェア、データ採…

    設定条件および採取データを統合できる互換性があります。それらのシステムを使用した検査プロセス全体を管理し、フェーズドアレイUT & FMC/TFM 検査の完全なパッケージとなります。 強力な3次元環境サポートで検査プロセスを管理: ・3次元CADファイルの生成、読込み ・複雑な構造でも使用可能、3次元レイ・トレーシングおよび音響ビームシミュレーション ・スキャナ シミュレーション ...

    メーカー・取り扱い企業: Eddyfi Technologies ジャパンオフィス

  • 光コムによる表面形状計測(表面検査) 製品画像

    光コムによる表面形状計測(表面検査)

    表面の3次元構造を広範囲かつ高速で計測可能な技術です。

    来の検査装置では、広範囲かつ高速での高分解サンプリング計測が難しいという課題がありました。 本技術では光周波数コム(光コム)シングルショット断層イメージング技術によって、 広範囲かつ高速な、表面3次元構造の計測技術を実現しました。 【技術の特長】  ・光コムにより、3次元構造を広範囲かつ高速で測定可能  ・光コムにより、非接触で物体形状が測定可能  ・測定対象の属性情報(屈折率、透過率、反射...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社信州TLO

  • BOW(歪み)検査装置 製品画像

    BOW(歪み)検査装置

    TFT・LCDガラスの歪み検査をする装置です。

    測定した結果を2次元または3次元データとして表示します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ラポールシステム

  • Eddyfi フェーズドアレイ超音波探傷装置 TOPAZ32 製品画像

    Eddyfi フェーズドアレイ超音波探傷装置 TOPAZ32

    マルチタッチスクリーンを備えた32ch多機能フェーズドアレイ超音波探傷…

    2倍) ・2Dマトリクスアレイプローブのサポートやタイムリバーサルオプション等の先進的な機能 ・様々なフェーズドアレイ超音波探傷アプリケーションに柔軟に対応 ・非検体プロファイルの作成機能(3次元) ・全ての検査フローを小型ボディに搭載: フェーズドアレイ条件設定/データ採取/データ解析/レポート作成...

    メーカー・取り扱い企業: Eddyfi Technologies ジャパンオフィス

  • ZETEC DYNARAY & DYNARAY LITE 製品画像

    ZETEC DYNARAY & DYNARAY LITE

    超高性能フェーズドアレイ・超音波探傷装置のDYNARAYシリーズ。 …

    ーブ(最小0.5MHz) •検査条件に対する柔軟性 最大で4,096個の異なるフォーカルロウを適用でき、複雑な形状変化に 対応するポジションディペンダントフォーカルロウも可能 • 3次元解析環境 UltraVisionを用いて制御、検査対象の採取データを3Dで可視化...

    メーカー・取り扱い企業: ダイヤ電子応用株式会社

  • ZETEC DYNARAY / DYNARAY Lite 製品画像

    ZETEC DYNARAY / DYNARAY Lite

    超高性能フェーズドアレイ超音波探傷装置

    の周波数をサポート(0.5MHz~20MHz) ・フルマトリクスキャプチャ(FMC)データ採取をサポート ・データ採取、解析ソフトウェアUltraVisionを用いた大容量データの取り扱いや、3次元空間への超音波データプロットを含む進んだ解析環境を提供...

    メーカー・取り扱い企業: Eddyfi Technologies ジャパンオフィス

  • MAGNACHECK(マグナチェック) 製品画像

    MAGNACHECK(マグナチェック)

    磁粉探傷検査用テスラメーター

    テスラメーター、ガウスメーター、EMF検出器とも呼ばれます。MagnaCheckは簡単に使用でき、現場で磁場を監視するために持ち運びできるハンドヘルドバージョンも利用できます。フィールドの強度を3次元(x、y、z)で測定できる独自の3Dプローブを提供しています。測定はプローブの向きに依存しません。 困難な形状の再現可能な最大電界強度測定を可能にします。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 栄進化学株式会社

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