• 【USB式】WiFi振動センサー『コナンエアー』 製品画像

    PR設備装置への予知保全対策は万全ですか?USB式の小型Wi-Fi振動セン…

    『コナンエアー』は、簡易診断用のUSB式小型Wi-Fi振動センサーです。 簡単で、誰でも簡単にタブレットやスマートフォンとブラウザ上で 接続できます。 また、1キロヘルツまで対応可能でありながら、手のひらサイズと小型です。 1個のコナンエアーで100台まで設備登録可能な「マニュアルモード」と、 複数台常時設置で、工事不要の「自動モード」を備えております。 【仕様(抜粋)...(つづきを見る

  • IoT無線ユニット【熱中症指標計用オプション】 製品画像

    PRWBGT値(暑さ指数)をスマホで確認!

    「熱中症指標計 WBGT-203B・213BN」に接続することで、測定データをクラウドに自動送信します。 測定データは、WebアプリのログインIDとパスワードがあれば、インターネットに接続されたさまざまな端末から閲覧可能です。 この「IoT無線ユニット」は、さまざまな設置方法に対応でき、より手軽に本格的な熱中症予防に取り組んで頂くことができます。 【特長】 ■面倒な契約や手続きなし ...(つづきを見る

  • Science Solutions 製品カタログ 製品画像カタログあり

    当社のソフトウェアを多数掲載!

    『Science Solution』は、主に、創薬研究等の科学技術に関するソフトウエアの 研究開発・販売業務を行っているノーザンサイエンスコンサルティング株式会社 の製品カタログです。 薬物動態解析・製剤設計支援ソフトウェア「GastroPlus」や申請用PKデータ 解析とレポーティングのための次世代ソフトウエア「PKPlus」などの 製剤研究に使用されるソフトウェアを多数掲載してお...(つづきを見る

  • 【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価 製品画像カタログあり

    GCIB(Arクラスター)を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可…

    ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長をもち、太陽電池パネル・メガネレンズ・CD・車載部品・医療機器の材料として、幅広く活用されております。今回、スパッタイオンビームにGCIB(Arクラスター)を用いてTOF-SIMS分析を行い、PC表面の劣化層の評価を行いました。 ※GCIB:Gas Cluster Ion Beam...詳しいデー...(つづきを見る

  • 【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析 製品画像カタログあり

    フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価

    食品用ラップフィルムは製造過程での熱暴露に対する安定性や、可塑性を持たせるために添加剤が用いられる場合があります。これらの添加剤は調理条件下で変化することなく安定に存在することが求められます。本事例では添加剤の一つであるIrgafos168の存在状態が加熱前後で変化(ブリードアウト)するかについてTOF-SIMSを用いて調査した結果をご紹介します。※GCIB:Gas Cluster Ion Bea...(つづきを見る

  • 【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価 製品画像カタログあり

    GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

    高分子材料の表面にイオン照射を行うことにより、表面特性の変化が生じます。この変化を利用し、機能性材料の開発など広い分野で研究が行われています。イオン照射後、表面状態にどのような変化が生じたのか評価することは、効率的な研究・開発に重要です。 TOF-SIMS分析では、スパッタイオンビームにGCIB(Gas Cluster Ion Beam)を用いることで、高分子材料表面のイオン照射による損傷層(ダ...(つづきを見る

  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像カタログあり

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    ポリイミドは非常に耐熱性が高く電気絶縁性も優れていることから、電子部品をはじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価しました。GCIB(Arクラスター)をスパッタに用いると着目する有機成分を...(つづきを見る

  • 【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 製品画像カタログあり

    雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

    大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB(Arクラスター)を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量(m/z 564)や、低分子のベンゼン系の質量(m/z 77,105)が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面から約1μm以...(つづきを見る

  • 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析 製品画像

    故障した基板の動作不具合部品や物理的不具合箇所を特定します。

    定し不具合信号タイミング波形などをトレースします ○オープンショートチェック:物理的不具合箇所を確実に特定します。 ○3次元X線CT活用:(非破壊検査対応/3次元斜めX線透視、CT検査装置) BGAボールのはんだや内層パターン不具合をトレースします。 ○不具合状況の分析:クロスセクションによるはんだ接合不具合状況の分析を基に要因の推察をします ●詳しくはお問い合わせください。...(つづきを見る

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