• RS-232Cをより便利に活用できるシリアルアダプターシリーズ 製品画像

    RS-232Cをより便利に活用できるシリアルアダプターシリーズ

    PRUSBタイプからBluetooth、SubGigaまでラインナップした…

    ものづくりの現場で広く採用されている「シリアル通信」をより便利に活用できるラトックのシリアルアダプターシリーズは、用途に合わせてUSB変換、Bluetooth、Wi-Fi、SubGigaをラインナップ。また有線ネットワーク(Ethernet)もご用意しています。 【シリアルアダプターの便利な用途】 ・各計測器とホスト端末をつないで計測結果をまとめて計測 ・ケーブルの届きにくい機器との接続...

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    メーカー・取り扱い企業: ラトックシステム株式会社

  • 1個無料のトライアルキャンペーン!リフティングポイントのご紹介 製品画像

    1個無料のトライアルキャンペーン!リフティングポイントのご紹介

    PR「安全に横吊り」&「ボルトが緩まず反転作業」ができるルッド社の…

    通常のリフティングポイントだと横方向で固定され、リングのみに負荷がかかってしまい、その結果破損し、事故につながる危険性が大きくなります。 RUD社の製品なら、常に負荷方向へ移動・回転し、リングのみの負荷を軽減します。 【ACP トルネード】 特許スプリング・丸いリング形状のため、常に負荷方向へ移動し、安全に横吊りが可能。 【ILBG-SR スーパーローテーション】 リングはボルト...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ルッドリフティングジャパン

  • Science Solutions 製品カタログ 製品画像

    Science Solutions 製品カタログ

    当社のソフトウェアを多数掲載!

    『Science Solution』は、主に、創薬研究等の科学技術に関するソフトウエアの 研究開発・販売業務を行っているノーザンサイエンスコンサルティング株式会社 の製品カタログです。 薬物動態解析・製剤設計支援ソフトウェア「GastroPlus」や申請用PKデータ 解析とレポーティングのための次世代ソフトウエア「PKPlus」などの 製剤研究に使用されるソフトウェアを多数掲載してお...

    メーカー・取り扱い企業: ノーザンサイエンスコンサルティング株式会社

  • 【事例集】X線透視・CT検査装置 製品画像

    【事例集】X線透視・CT検査装置

    X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…

    当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。 【掲載内容(抜粋)】 ■BGAはんだクラック解析事例(X線透視観察) ■表面実装LED ■チ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス 分析解析・信頼性評価サービス

  • 【 JTAGバウンダリスキャンテストシステム】 製品画像

    【 JTAGバウンダリスキャンテストシステム】

    BGA搭載基板などのデバッグと実装検査・不良解析の省力化

    ■JTAGバウンダリスキャンテスト  ・デバック作業効率が飛躍的に高まります。  ・テストパット分の面積を削減でき小型化できます。  ・高密度実装基板(BGA搭載)を電気的に検査・不良解析ができます。 ■導入メリット  ・多層基板の内層信号まで可視化できる。  ・BGA裏側の端子状態をリアルタイムに可視化できる。  ・FPGA・CPUの端子を自...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーテック

  • 【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価 製品画像

    【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価

    GCIB(Arクラスター)を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可…

    ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長をもち、太陽電池パネル・メガネレンズ・CD・車載部品・医療機器の材料として、幅広く活用されております。今回、スパッタイオンビームにGCIB(Arクラスター)を用いてTOF-SIMS分析を行い、PC表面の劣化層の評価を行いました。 ※GCIB:Gas Cluster Ion Beam...詳しいデー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析 製品画像

    【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析

    フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価

    食品用ラップフィルムは製造過程での熱暴露に対する安定性や、可塑性を持たせるために添加剤が用いられる場合があります。これらの添加剤は調理条件下で変化することなく安定に存在することが求められます。本事例では添加剤の一つであるIrgafos168の存在状態が加熱前後で変化(ブリードアウト)するかについてTOF-SIMSを用いて調査した結果をご紹介します。※GCIB:Gas Cluster Ion Bea...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    ポリイミドは非常に耐熱性が高く電気絶縁性も優れていることから、電子部品をはじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価しました。GCIB(Arクラスター)をスパッタに用いると着目する有機成分を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価 製品画像

    【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価

    GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

    高分子材料の表面にイオン照射を行うことにより、表面特性の変化が生じます。この変化を利用し、機能性材料の開発など広い分野で研究が行われています。イオン照射後、表面状態にどのような変化が生じたのか評価することは、効率的な研究・開発に重要です。 TOF-SIMS分析では、スパッタイオンビームにGCIB(Gas Cluster Ion Beam)を用いることで、高分子材料表面のイオン照射による損傷層(ダ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

    雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

    大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB(Arクラスター)を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量(m/z 564)や、低分子のベンゼン系の質量(m/z 77,105)が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面から約1μm以...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析 製品画像

    東芝コンピュータテクノロジー株式会社 基板解析

    故障した基板の動作不具合部品や物理的不具合箇所を特定します。

    定し不具合信号タイミング波形などをトレースします ○オープンショートチェック:物理的不具合箇所を確実に特定します。 ○3次元X線CT活用:(非破壊検査対応/3次元斜めX線透視、CT検査装置) BGAボールのはんだや内層パターン不具合をトレースします。 ○不具合状況の分析:クロスセクションによるはんだ接合不具合状況の分析を基に要因の推察をします ●詳しくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 東芝コンピュータテクノロジー株式会社 本社

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