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カメラ側から発光された近赤外光の反射時間を利用して距離を計測できるTo…
カメラ側から発光された近赤外光の反射時間を利用して距離を計測できるToFカメラとRGBカメラを一体にした2眼小型ボードカメラで、物体との距離を1画素毎に計測し出力が可能。 【特長】 ■ToFカメラ開発キット ToFの簡易的な評価に好適。 各種カメラ制御等を行うためのSDKを提供。 ROSドライバのサポートにより、様々なアプリケーションへ組み込み可能。 ■RGB+Depth 2眼カメ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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お手軽にリアルタイム測距が可能に!小型ToFカメラ開発キット
カメラ1台でカラーと距離データを取得!画像取得やカメラのコントロールに…
画像という2D情報だけでなく3D情報が求められつつある今日、様々なデバイスが市場に出て参りました。 3Dスキャンの手法には光切断やステレオ方式などございますが、何がご自身の用途に適しているか迷ってはいませんか? 光切断ほど精度は不要だけど、リアルタイム性を保ったまま数m先まで測距したい!という方に好適な“Time-of-Flight”技術を用いた弊社のToFカメラをご紹介します。 ▼To...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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インターフェースにCoaXPressを使用することにより高速フレームレ…
グローバルシャッタCMOSセンサを搭載し、外部トリガ、ROI、欠陥画素補正、シーケンスコントロール、シェーディング補正等の機能を搭載しており、マシンビジョン用途に好適な仕様となっています。 また、近赤外領域を高感度に撮影するための生産設備として高価な赤外線カメラが必要であるため導入が難しい…、というお客様のために、CISでは近赤外の感度を向上させたCMOSセンサを搭載したVCC-SXCXP3NI...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…
最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。 【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易化。 ■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率の違いにより異なる色に映り、素材や内容物の違いを判別。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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CoaXPress I/Fを採用!400nm~1700nmの検出波長帯…
当製品は、SWIR画像を取得できるCoaXPressカメラです。 400nm~1700nmの検出波長帯で高精度な検査が可能。CoaXPress I/Fを採用し、 1つのセンサで可視+SWIR画像を取得できます。 電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、 工程品質管理などの様々なアプリケーションへの活用が期待されます。 【特長】 ■1つのセンサで可視+S...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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400~1700nmの波長帯を検出し、可視+SWIR画像を取得可能です…
400nm~1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場! カメラ1台で可視+SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率により異なる色に映り、素材や内容物の違いが判別可能。 ■液体の種類により光を吸収したり透過するので、内容物の有無や量、異物の混...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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