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    試料のX軸・軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定!FPD用フィルムやS…

    Sairon Technology, Inc. 三次元光屈折率・膜厚測定装置 プリズムカプラ SPA-3DRは、試料のX軸・Y軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定します。測定対象は透明フィルム、透明フィルム上の薄膜、石英、液体などがあり、FPD用フィルム、SiO2等の3次元複屈折率測定などの用途に適しています。搭載レーザーは405nm-1550nmの範囲で、4種まで搭載可能、複屈折率測定は、X-Y...(つづきを見る

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