• ESDテストシステム  Model 58154 製品画像

    ESDテストシステム  Model 58154

    半導体、電子部品への静電気パルス試験に最適なPXI/PCI試験器。

    58154は、半導体デバイス、電子デバイスのテスト中に静電気放電パルスをシミュレートするPXI/PCI制御モジュールです。ESD STM5.1-2001ヒューマンボディモデル(HBM)およびESD STM5.2-1999マシンモデル(MM)に準拠し、JEDEC、JEITA ED-4701と...

    メーカー・取り扱い企業: クロマジャパン株式会社

  • SoC/アナログテストシステム Model 3650-EX 製品画像

    SoC/アナログテストシステム Model 3650-EX

    コストパフォーマンスに優れたSoC/アナログテストシステム。

    AC測定機能)オプション 8~32ch VI45(±45V) アナログオプション 2~8ch PVI100(±100V) アナログオプション MRX オプション(for 3rd party PXI/PXIe applications) 他社テスタからのテストプログラム/テストパターンコンバータ可能 STDF データ出力サポート テストヘッド内の空冷 コンパクトテストヘッドと小型フッ...

    メーカー・取り扱い企業: クロマジャパン株式会社

  • レーザーダイオード特性評価システム Model 58620 製品画像

    レーザーダイオード特性評価システム Model 58620

    Chroma58620レーザーダイオード特性評価システムはレーザーダイ…

    バ結合試験用のオートアライメント機能搭載 光学検査機構を応用し、アライメント決定の時間遅延を短縮 ±0.1℃レベルで安定的に調整可能な高精度TEC温度コントローラー 高速試験に対応するためのPXIベースのSMUとパワーメーター レーザーダイオード特性をすべて解析可能にするソフトウェア(Ith, Rs, Vf, slope efficiency, λp 等)...

    メーカー・取り扱い企業: クロマジャパン株式会社

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