• X線CT観察サービス|JTL 製品画像カタログあり

    X線CT用いて製品の内部構造を非破壊で立体的に観察・検査します。

    を確認することが可能です。 ミクロンオーダーの焦点寸法により、鮮明で解像度の高い画像を得ることができます。 【多彩な画像処理】 ・任意の位置での断面観察が可能です。 ・最小厚み5μm(Dage製は10μm)のスライス画像の作成が可能です。 ・連続したスライス画像を動画として構築することが可能です。 ・母材部を透かしてスケルトン表示にすることで、特定箇所やマーキングした部分を際立た...(つづきを見る

  • X線透過観察サービス|JTL 製品画像カタログあり

    X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

    【最小焦点寸法:0.25μmでの高分解能観察】 焦点寸法が最小で0.25μm(理論値)であるため、数ミクロン~数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。 【X線管電圧:30kV~160kVの幅広い透過力】 X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。 【多方向からの観察】 ...(つづきを見る

  • 残留応力測定サービス|JTL 製品画像カタログあり

    X線回折の原理を利用して、試料の残留応力を非破壊で測定します。

    残留応力測定サービスでは、X線回折の原理を利用した多結晶体材料の表層部の応力の測定を行います。 応力の測定は、開発・試作・号口段階での製品の形状と安全を充分に計算した強度、その強度を維持する為の工程の構築など、幅広い分野で利用いただけます。...【非破壊による応力測定】 X線を用いて測定を行うため、非破壊・低ダメージでの測定が可能です。 【深さ方向の応力分布測定】 電解研磨装置でエッチ...(つづきを見る

  • FE-EPMAによる受託サービス|JTL 製品画像カタログあり

    電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)による微少領…

    FE-EPMA(電界放出型電子プローブマイクロアナライザ)を使用して、SEM像の撮影及びWDX(波長分散型X線分析装置)による元素分析を行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く(±数100ppm~数1,000ppm)、汎用型のEPMAよりも分析の空間分解能が良い(サブミクロンオーダー)ことが特徴です。 厚みが数100nmの薄膜の断面分析や、接合部分の微量元素の拡散状態の分析などにご...(つづきを見る

  • 蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL 製品画像カタログあり

    材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

    蛍光X線分析装置(XRF)を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置(XRF)は波長分散型X線分析法(WDX)を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測...(つづきを見る

  • 残留オーステナイト定量サービス|JTL 製品画像カタログあり

    X線回折の原理を利用して残留オーステナイトの定量を行います。

    残留オーステナイト定量サービスでは、X線回折の原理を利用して鋼材の表層部の残留オーステナイトの定量を行います。 鋼材の焼入れ時、フェライトからマルテンサイトなどへの変態は常温までの冷却では完了せず、焼入れ組織と未変態のオーステナイトが残留した混合組織となります。 残留オーステナイトは硬度の低下や経年変寸を引き起こすことがあるため、量を把握・コントロールすることが重要と言えます。...測定範囲は...(つづきを見る

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