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ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡
『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーエンス
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ナノ・マイクロ・ミリ これ一台で測定は完結する
■レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の3つの異なるスキャン原理を一台に ■最高分解能0.01mm ■292種類の解析ツールで一歩踏み込んだ解析を...-...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーエンス
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