• 〈5/24接着粘着技術展2024出展〉ホットメルトロールコーター 製品画像

    〈5/24接着粘着技術展2024出展〉ホットメルトロールコーター

    PRファストラボ室にて最大塗布幅1000mm対応のテスト機で試作可能!

    長年の光ディスク(DVD)接着で培ったノウハウを取り入れたホットメルト用ロールコーターです。 光ディスクでは10μ±0.5μの精度で塗布を行っています。 塗布幅は標準として1600mmまで可能です。(仕様による) ファストラボ室にて最大塗布幅1000mm対応のテスト機で試作可能です。 少量塗布から多量塗布まで、塗布基材に応じた多様な塗布が出来ます。 仕様はお客様の希望に応じて...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファスト

  • ゴム加工性解析装置『Premier RPA』 製品画像

    ゴム加工性解析装置『Premier RPA』

    PRゴム試験機で先進のRPA!この1台で様々なゴム試験ができるゴムに適した…

    『Premier RPA』は、歩留り改善、プロセスへのフィードバックに 活用できるゴム加工性解析装置です。 試作等に於ける試行錯誤からデーター活用でき、 時間、材料等の無駄の削減に貢献。 ひずみ・周波数・温度の制御、1台で様々な評価が行える為、コストダウン、 試験の効率、生産性向上のお役に立ちます。 また、「RPA Sub-Zero」は、液体窒素を使用せずにー25℃迄の低温...

    メーカー・取り扱い企業: 東京材料株式会社

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    [RBS]ラザフォード後方散乱分析法

    固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

    ++)を照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です。 散乱されたHeイオンの運動エネルギーを測定し、衝突した原子の質量数を調べることで分析サンプルの成分や層構造を評価することができます。 また、固体試料にHeイオンを入射して前方に散乱されたHイオンを測定することで、サンプル中の水素濃度を評価することも可能です。この測定手法が水素前方散...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [PL]フォトルミネッセンス法

    PL:PhotoLuminescence

    ス法とは、物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光を 観測する方法です。得られる発光スペクトルから、様々な情報を得ることが可能です。 ・バンドギャップ約3.5eVまでのサンプルを励起することが可能 ・マッピング機能により、広範囲の情報を得ることが可能 ・約10Kまでの測定が可能 ・一般的に非破壊の測定であり、特殊な前処理が不要 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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