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  • 【蓄電デバイス】1冊で分かる電気二重層キャパシタとは？ 製品画像

    【蓄電デバイス】1冊で分かる電気二重層キャパシタとは？

    PR2000Vまで連結可能な高耐圧の電気二重層キャパシタ。電力・発電・大型…

    蓄電デバイスとは、蓄電池やキャパシタなどの電力を貯蔵して 一定期間後に放出することができる装置やシステムを指します。 本資料は電気二重層キャパシタを解説した基礎知識集で、 電気二重層キャパシタの効果と原理をはじめ、電池等蓄電デバイスとの比較、 また大容量キャパシタの応用分野も掲載しております。 1冊で今さら聞けない、キャパシタの基礎が分かる資料ですのでぜひ一度ご連絡下さい。 【...

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    メーカー・取り扱い企業： アイオクサスジャパン株式会社 (旧社名 株式会社パワーシステム)

  • CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用) 製品画像

    CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

    PR少量ウェーハに対応！研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス！ ハ…

    【取扱商品】 ＊CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 ＊プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等） ＊SOIウェーハ：高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社エナテック 東京本社

  • 受託サービス：デバイスの質量ガス分析 製品画像

    受託サービス：デバイスの質量ガス分析

    高精度の四重極型質量分析システムによる受託分析サービス。封止デバイス内…

    型質量分析システムにより、お客様から受領した サンプルのガス分析（リーク量測定）を行うサービスを提供しております。 分析装置に“低ガス放出”の0.2％BeCu合金製の真空構造材を採用しており、 デバイスの破壊試験による10^-15Pa・m3/s(He)以下という極微小リークの検出が可能。 封止デバイス内部や接合ウェハー界面のガス分析を行います。 半導体デバイスの不良解析、品質改善、品質管理に貢献...

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    メーカー・取り扱い企業： 東京電子株式会社

  • 受託サービス：質量ガス分析＜分析システムの解説付き資料進呈＞ 製品画像

    受託サービス：質量ガス分析＜分析システムの解説付き資料進呈＞

    高精度の四重極型質量分析システムによる受託分析サービス。極微小リークも…

    析システムにより、お客様から受領した サンプルのガス分析（リーク量測定）を行うサービスを提供しております。 分析装置に“低ガス放出”の0.2％BeCu合金製の真空構造材を採用しており、 デバイスの破壊試験による10^-15Pa・m3/s(He)以下という極微小リークの検出が可能。 半導体デバイスの不良解析、品質改善、品質管理に貢献します。 【測定例】 ■半導体チップの各積層間の...

    メーカー・取り扱い企業： 東京電子株式会社

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