バウンダリスキャンテスト JTAG (CORELIS)

BGA・QFP搭載基板、狭ピッチコネクター導入基板をピンレベルで検査。

バウンダリスキャンテスト JTAG の特徴は、BGA部分の品質をファンクションで保証すると製品全体の検査時間が増大し、結果、確実にBGAの実装保証が可能となり、不良原因の特定が短時間且つピンレベルで実現可能。...BGA, QFPが多数搭載されている場合、テストピンを十分に立てることが出来ない為、ファンクションテストが一般的に実施されております。しかし、不良原因を十分に特定することは困難な為、CO...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニューリー・土山