非接触・非破壊・光断層計測　「光マイクロメータ」

高速測定で、サンプルに傷をつけず、透過サンプルであれば厚み・内部測定も…

「光マイクロメータ」は、マイケルソン干渉計を用いた非接触・非破壊の 断層計測装置です。 サンプルに光を照射し、表面、内部、裏面からの戻り光を検出して 各戻り光間の測定を行う装置です。 反射測定ですので、...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社