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PR薄膜の厚さ分布を高速測定!
FALCO 膜厚2Dマッピングシステムは、おもにガラスや半導体ウェーハ上に形成された薄膜の厚さ分布を高速に、 また高い分解能で測定することのできるシステムです。 条件にもよりますが、数nmの薄膜からμmオーダーの比較的厚い領域(Si 換算)まで、 高い精度で値を確定することができます。...分解能: 0.001 nm 精度: NIST準拠ウェハ1000 nm<±1% 再現性: 0.01 nm(ア...
メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社
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PR【非破壊検査】テラヘルツ光で測定物にダメージを与えずに非接触で検査可能…
OPTIKAN社のテラヘルツイメージングシステム「uSense」は、 FMCW(周波数連続変調)レーダー、走査ステージ、制御・ソフトウェアを搭載したタブレット端末が付属した、オールインワンモデルのテラヘルツイメージング装置です。 テラヘルツ光により様々な測定サンプルにダメージを与えることなく、非破壊、非接触で測定することが可能です。 樹脂、複合材料などの材料の評価・研究用途だけでなく、産...
メーカー・取り扱い企業: ケイエルブイ株式会社
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色温度3,200K!輝度フィードバック機能付き!輝度モニタリング用サン…
置として適しています。 黒体軌跡に近似した色温度3,200Kの分光分布特性です。 あらゆるサイズ、面精度、色温度の光源を実現します。 輝度フィードバック機能を搭載しております。 輝度モニタリング用サンプルアプリケーションが付属します。 【特徴】 ○ハロゲンランプ光源(DC/直流点灯) ○各種チャート透過型 ○輝度フィードバック機能を搭載 ○輝度モニタリング用サンプルアプリ...
メーカー・取り扱い企業: 京立電機株式会社
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非接触レーダーレベル計 3408
Rosemount 3408 レーダーレベル計は化学を含む多く…
日本エマソン株式会社 メジャメントソリューションズ -
Schuler社(シューラー)カメラ式金型異物検知、保護
カメラベースのモニタリング装置で金型の損傷やプレスのダウンタイ…
株式会社イリス 東京本社、大阪支店、名古屋支店 -
DIAL大気プロファイラ『DA10』
悪天候予想と気候モデリングの強化を実現する、高度なリアルタイム…
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FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタ…
ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部 -
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VolPやVoLTEを介した音声伝送をサポートする高度なエレベ…
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電気自動車用バッテリー向けレーザ溶接/光計測ソリューション
高精度・高速光計測センサ、レーザ溶接、溶接中モニタリングなどバ…
プレシテック・ジャパン株式会社 -
研究開発に適した小型オートクレーブ『DANDELION』シリーズ
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株式会社羽生田鉄工所 -
アパレル用自動裁断機『Vector』※少量~大量生産の生地裁断に
生地の裁断を自動化。幅広い製造モデルや生地タイプに対応し、裁断…
レクトラ・ジャパン株式会社 -
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部品取り付け漏れの防止や商品の在庫管理などにお役立ち。ノートP…
ナラサキ産業株式会社 メカトロソリューション部 機能材料課