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FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
PR受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに…
『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の NIR分光計です。 製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、 製造のばらつきを改善。 固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、 ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。 【特長】 ■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性 ■RockSolidテク...
メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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PR薄膜の厚さ分布を高速測定!
FALCO 膜厚2Dマッピングシステムは、おもにガラスや半導体ウェーハ上に形成された薄膜の厚さ分布を高速に、 また高い分解能で測定することのできるシステムです。 条件にもよりますが、数nmの薄膜からμmオーダーの比較的厚い領域(Si 換算)まで、 高い精度で値を確定することができます。...分解能: 0.001 nm 精度: NIST準拠ウェハ1000 nm<±1% 再現性: 0.01 nm(ア...
メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社
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土壌・地下水環境浄化システム
調査から浄化計画策定、浄化対策工事、浄化効果確認のモニタリングに至るまで 一貫したシステムと、きめ細かな対応、高度な専門性に高い評価を戴いております。 光触媒分解浄化技術、化学・生物学的分解浄化技術を活用した土壌・地下水汚染浄化技術が 注目されて...
メーカー・取り扱い企業: ADEKA総合設備株式会社
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テラヘルツイメージングシステム「uSense」
【非破壊検査】テラヘルツ光で測定物にダメージを与えずに非接触で…
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Schuler社(シューラー)カメラ式金型異物検知、保護
カメラベースのモニタリング装置で金型の損傷やプレスのダウンタイ…
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電気自動車用バッテリー向けレーザ溶接/光計測ソリューション
高精度・高速光計測センサ、レーザ溶接、溶接中モニタリングなどバ…
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日本エマソン株式会社 メジャメントソリューションズ -
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ナラサキ産業株式会社 メカトロソリューション部 機能材料課