平面形状測定装置『OptoFlat』

誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両…

作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減（裏面キャンセル厚さ0.3mm以上） レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マブチ・エスアンドティー

非接触厚さ測定装置　ＯＺＵＭＡ２２　

半導体用ウエハー（Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム砒素砒素）、…

半導体用ウエハー（Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム砒素（Ga)砒素(As)）、ガラス、金属等の高精度非接触厚さ測定装置のOZUMAが新しくなりました。 非接触厚さ測定装置OZUMA22は半導体用ウエハー（Siシリコンウエハー・GaAs・ガリウム(Ga)砒素(As)）等の裏面研磨工程における厚さ管理用として、あるいは各製造工程における厚さ管理用として非接触測定で御使用いただけます。...エア...

メーカー・取り扱い企業： 佐々木工機株式会社