• 【NEW】2024年度版『オプティクス&フォトニクスカタログ』 製品画像

    【NEW】2024年度版『オプティクス&フォトニクスカタログ』

    PR光学部品の総合カタログ、全468ページ!レンズ、ミラー、フィルターなど…

    当社の新製品・人気製品を中心にまとめた 『2024年度版 オプティクス&フォトニクスカタログ』を配布中です! 全468ページの大ボリュームで20、000品目以上を紹介。 製品の特長や価格情報だけでなく、 レンズやミラーの選定ガイドや、テクニカルガイドも随所に収録。 光学分野の研究者、設計者、OEMユーザーに役立つ情報が満載です。 【掲載製品】 ■オプティクス(光学素子) ■オプトメカニクス ■...

    • 8150.jpg
    • 8083.jpg
    • 8395.jpg
    • 8170.jpg
    • J241表紙画像.jpg

    メーカー・取り扱い企業: エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社

  • 顕微鏡用ナノ位置決めステージ『DOF-5』 製品画像

    顕微鏡用ナノ位置決めステージ『DOF-5』

    PR低コストで高性能!画像の安定性を維持しながら高速なステップと整定を実現…

    『DOF-5』は、光学イメージングアプリケーション向けに最適化された 低コストで高性能なナノポジショニングステージです。 移動量(5mm)と帯域幅(225Hz以上)が大きく、画像の安定性を維持しながら 高速なステップと整定を実現。 また、ボリュームディスカウントが利用可能です。 【特長】 ■高価な顕微鏡用ピエゾステージの代替品として登場 ■ボリュームディスカウントが利用可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーストンインターナショナル

  • 【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け 製品画像

    【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

    光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較!メリット、デメリットを挙げて解…

    試料の観察には光学顕微鏡とSEM(走査電子顕微鏡)がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている...

    • SEM_focus.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶パネルの不良解析 製品画像

    液晶パネルの不良解析

    点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

    不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発...

    • image_03.png
    • image_02.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_06.png
    • image_07.png
    • image_08.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 似て非なる物の解析基本手法 製品画像

    似て非なる物の解析基本手法

    応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、EDX元素分析までの流れを…

    解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。 光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな 形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる...

    • image_02.png
    • image_03.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_06.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

    微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

    『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■蒸...

    • image_18.png
    • image_20.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】MEMS部品の構造解析 製品画像

    【資料】MEMS部品の構造解析

    MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析!

    当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフォンの断面観察(CROSS BEAM FIB/SEM)” を掲載。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■加速度センサーの非破壊観...

    • スクリーンショット 2021-09-16 103557.png
    • スクリーンショット 2021-09-16 103610.png
    • スクリーンショット 2021-09-16 103621.png
    • スクリーンショット 2021-09-16 103633.png
    • スクリーンショット 2021-09-16 103644.png
    • スクリーンショット 2021-09-16 103657.png
    • スクリーンショット 2021-09-16 103708.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 大型試料の断面観察(膨張弁) 製品画像

    大型試料の断面観察(膨張弁)

    大型試料(65mm×28mm)の断面作製と内部構造の観察事例をご紹介!

    65mm×28mmの大型試料(膨張弁)の観察事例をご紹介します。 本試料は磁性材料が用いられており、SEM観察は像が歪んでしまうため、 光学顕微鏡による観察を主としました。 外観とX線透視観察で、X線では一部、透視されない箇所があることが わかりました。 【概要】 ■外観とX線透視観察 ■光学顕微鏡による断面観察 ...

    • image_02.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_10.png
    • image_03.png
    • image_11.png
    • image_12.png
    • image_13.png
    • image_14.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アイテス 装置一覧 製品画像

    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

    アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析  物理解析・表面分析・化学分析...■形態観察 ...

    • 装置一覧.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 実装部品のインク浸漬試験(dye and pry) 製品画像

    実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)

    着色液や蛍光液を浸透させることにより、破断・剥離層の観察を行うことがで…

    により、 破断・剥離層の観察を行うことができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【インク浸漬試験の流れ】 ■インク浸漬(dye) ■引き剥がし(pry) ■光学顕微鏡やSEMによる観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

    • image_23.png
    • image_24.png
    • image_25.png
    • image_26.png
    • image_27.png
    • image_28.png
    • image_29.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製ディスプレイの不良解析 製品画像

    海外製ディスプレイの不良解析

    不良解析の実績多数!現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な…

    、「海外製ディスプレイの不良解析」を行っております。 現象の確認から、不良発生メカニズムの推測、原因となった 生産工程の絞り込みなど、詳細な解析が可能です。 点灯観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実施。 不具合箇所を絞り込み、詳細解析が必要な場合は適切な手法を提案させていただきます。 【詳細解析例(一部)】 ■配線の断面観察 ■異物分析 ■液晶成分分...

    • キャプチャ1.PNG
    • キャプチャ2.PNG
    • キャプチャ3.PNG
    • キャプチャ4.PNG

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像

    海外製 液晶ディスプレイの良品解析

    不具合が出れば詳細解析も!海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

    株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させてい...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 実装部品接合部の解析 製品画像

    実装部品接合部の解析

    機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

    ■基板接合部機械研磨  +化学エッチング  +イオンミリング  光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成  SEMによる観察...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察 製品画像

    ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察

    『ミクロトームにて断面作製!レンズのコート層、多層膜の観察事例をご紹介…

    ている様子が 伺えます。 【概要】 ■断面作製方法 ・ミクロトームで作製 ・フレームから取り外したレンズを小さくカットし埋め込み樹脂に包埋 ・その後、ミクロトームにて断面を作製し光学顕微鏡観察、SEM観察、  EDX分析を実施 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    • image_05.png
    • image_06.png
    • image_07.png
    • image_08.png
    • image_09.png
    • image_10.png
    • image_11.png
    • image_12.png
    • image_13.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アルミ溶接部の観察 製品画像

    アルミ溶接部の観察

    アルミ溶接部の観察事例をご紹介。X線透視・CT検査による内部観察から、…

    ・非破壊検査・X線透視観察を実施 ・溶接部の内部にボイドが観察された ■X線CTによる内部観察 ・非破壊検査・X線CT観察を実施 ・ボイドは、溶接中央部付近に位置していることを確認 ■光学顕微鏡・卓上SEMによる断面観察 ・機械研磨・薬液エッチング 試料に合った断面作製で、より鮮明に観察が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    • image_02.png
    • image_03.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_06.png
    • image_07.png
    • image_08.png
    • image_09.png
    • image_10.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 角型Liイオン電池の構造解析 製品画像

    角型Liイオン電池の構造解析

    光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察!詳細な構造の解析や元素…

    市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。 資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン...

    • 2.jpg
    • 3.jpg
    • 4.jpg
    • 5.jpg
    • 6.jpg
    • 7.jpg
    • 8.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる結晶解析】BGA 製品画像

    【EBSDによる結晶解析】BGA

    EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能!BGAの解析例をご紹…

    BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。 顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマップを使用し、結晶状態や残留応力の 推測が可能です。 ...

    • image_02.png
    • image_03.png
    • image_04.png
    • image_05.png
    • image_06.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

1〜15 件 / 全 15 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg